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彩谱FS-1X系列高光谱相机在无纺布瑕疵检测中的应用

作者:彩谱科技

在医疗、过滤、包装等领域广泛应用的无纺布,其生产过程易受原材料质量、工艺参数等影响,产生孔洞、油污、褶皱、表面杂质等瑕疵,这些问题不仅影响产品外观,还可能削弱使用性能。传统人工检测效率低、主观性强,传统视觉检测技术面对“同色异物”等复杂场景时,也难以实现精准识别。杭州彩谱科技FS-1X系列高光谱相机,凭借独特的光谱成像优势,结合深度学习算法,为无纺布瑕疵检测提供了高效解决方案。

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行业检测痛点与技术突破方向

无纺布生产的高速化、规模化,对检测技术提出了双重要求:既要精准识别微小瑕疵和同色异物,又要满足实时检测的生产节奏。传统检测方式存在明显局限:人工检测易因疲劳导致漏检、误检,且难以跟上生产线速度;普通工业相机仅能捕捉RGB三色信息,对颜色与基材相近的杂质、微小孔洞等瑕疵识别能力不足。

高光谱成像技术的出现打破了这一困境。该技术能捕捉物体在连续窄波段下的光谱信息,每种物质都具备独特的“光谱指纹”,即使是外观颜色一致的不同物质,也能通过光谱曲线差异实现区分。彩谱FS-1X系列高光谱相机正是基于这一原理,成为无纺布瑕疵检测的关键设备。

FS-1X系列高光谱相机的应用实践

核心配置与技术适配

在某无纺布企业的检测项目中,FS-1X系列高光谱相机作为核心数据采集设备,与卤素光源、高性能处理平台、打标机等组成完整检测系统。相机采用C口镜头安装设计,配备USB3.0高速传输接口,能快速采集无纺布表面的高光谱图像数据,配合双排16只220V35W卤素灯的45°斜向照明,确保光照均匀、显色性高,为后续分析提供高质量原始数据。

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针对无纺布检测场景,FS-1X系列相机可在900-1700nm波段范围内采集光谱信息,通过特征波长提取技术,筛选出1202nm、1421nm、1540nm三个关键波段,合成伪RGB图像。这种处理方式既保留了瑕疵与基材的光谱差异特征,又大幅降低数据量,满足实时检测对数据处理速度的要求。

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多类型瑕疵精准识别

该检测系统基于FS-1X采集的高光谱数据,结合改进的深度学习算法,实现了对无纺布四大类常见瑕疵的精准检测:

表面杂质:识别生产过程中产生的金属微粒、塑料杂质等,即使与基材颜色一致也能通过光谱差异锁定;

油污:捕捉无纺布表面的油迹污染,不受基材纹理和光照变化影响;

褶皱:检测挤压产生的褶痕缺陷,避免因纹理干扰导致的误判;

孔洞:精准定位尖锐物体造成的划痕和孔洞,包括微小尺寸瑕疵。

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工业级应用表现

在实际生产测试中,FS-1X系列高光谱相机配合检测系统,展现出稳定的工业应用能力:

检测精度:对各类瑕疵的平均检测准确率达到90.3%,其中孔洞、褶皱等瑕疵的识别精度尤为突出;

实时性:单帧图像处理时延控制在生产要求范围内,可实现200米/分钟的生产线检测速度;

环境适应性:相机耐震动、耐高温性能良好,配合卤素光源的稳定照明,在复杂工业环境中仍能保持检测稳定性;

数据支撑:采集的光谱数据与检测结果同步存储,为质量追溯和生产工艺优化提供数据支持。


技术赋能的客户价值

FS-1X系列高光谱相机的应用,为无纺布企业带来了多维度价值提升:一是替代人工检测,降低人力成本和主观误判风险,提升生产效率;二是精准识别各类瑕疵,尤其是解决了“同色异物”这一行业难题,提高产品合格率;三是实现检测过程的自动化、数字化,助力企业向智能制造转型。

目前,该方案已在无纺布生产企业落地应用,凭借稳定的性能和精准的检测效果,获得了客户认可。未来,彩谱科技将持续优化高光谱成像技术,针对不同行业场景提供定制化解决方案,为更多制造业领域的质量管控赋能。

产品推荐

FigSpec FS-1X系列高光谱相机(线扫描)

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可见光:

光谱范围:400-700nm,波长分辨率优于2.5nm,可达600个光谱通道

采集速度:全谱段可达41HZ,波段选择后最高390Hz(支持多区域波段选择)

广泛应用于印刷,纺织等各种工业制品的表面颜色、纹理检测,颜色测量单像素重复性可达dE*ab<0.1

可见光近红外(400-1000nm):

波长分辨率优于2.5nm,可达1200个光谱通道

空间像素数可达2048

可见光近红外短波红外(400-1700nm):

波长分辨率优于13nm,可达680个光谱通道

空间像素数可达1280

短波红外(900-1700nm):

波长分辨率优于6nm,可达1024个光谱通道

空间像素数可达1280

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